дарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения (метод I); резонансный метод с паралелльным контуром (метод II); резонансный метод с последовательным контуром (метод III); мостовой метод (метод IV). Стандарт соответствует СТ СЭВ 2769-80 в части методов измерения динамического сопротивления.
