Стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума Sш.ст: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц-30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц.
