Стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения и устанавливает метод измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения в диапазоне длин волн380-2000 нм. Стандарт соответствует СТ СЭВ 3788-82 в части измерения относительного спектрального распределения энергии излучения и ширины спектра излучения.
